理學色散型X射線熒光光譜儀

ZSX PrimusII理學色散型X射線熒光光譜儀可靈活分析復雜樣品。30μm超薄窗光管，保證輕元素分析靈敏度。zui的mapping包可以檢測同質性和夾雜物。完全具備迎接21世紀實驗室挑戰，ZSX PrimusII是波長色散掃描式熒光光譜儀，分析精度高?？梢詫?Be到92U進行定性、定量分析。 

理學色散型X射線熒光光譜儀元素的檢量范圍從0.0001% ~ 100%，如進行前處理，可以再下降2 ~ 3個數量級。 

• 超薄鈹窗--30微米

• 高純超粗燈絲

• 大口徑尖銳型

• 靶面至窗膜的距離近

• 采用高頻技術，大大提高工作穩定性;

• 外電壓波動±1%時，輸出穩定度：  ±0.0002%;

• 大電流: 150mA; 大電壓: 60kV;

• 體積縮小 

• 具有500 微米的選區分析功能

• X光入射角, 取出角, 陽靶與樣品的距離

• *的準直器

• 靈活的r-theta樣品臺

• 顯示簡明易懂，便于操作；

• 模板化流程應用軟件引導用戶操作

• 新版本SQX (Scan Quant)基本參數法

• 易于與網絡連接

• 包容萬象的程序功能

• 更強化的維護功能

可以分析材料的狀態包括：粉末樣品、塊狀樣品、液體樣品。 

可以分析材料的領域包括：電子和磁性材料、化學工業、陶瓷及水泥工業、鋼鐵工業、非鐵合金、地質礦產、石油和煤、環境保護。