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斯派克X射線熒光光譜儀的用途

點擊次數:80  發布時間:2022-08-29

斯派克X射線熒光光譜儀的用途.jpg

X射線熒光光譜儀分析具有制樣簡單、分析速度快、分析含量范圍寬、重現性好、準確度高等特點,近年來,隨著X射線熒光光譜分析技術的不斷推廣,利用X射線熒光光譜儀分析檢測已成為各行業質量檢測的主要手段。


X射線熒光光譜儀(X-ray Fluorescence Spectrometer,簡稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質測量方法。XRF用X光或其他激發源照射待分析樣品,樣品中的元素之內層電子被擊出后,造成核外電子的躍遷,在被激發的電子返回基態的時候,會放射出特征的X光;不同的元素會放射出各自的特征X光,具有不同的能量或波長特征。檢測器接受這些X光,儀器軟件系統將其轉為對應的信號,這一現象廣泛用于元素分析和化學分析。


X射線熒光光譜儀可以分析的元素范圍廣泛,從4Be到92U均可檢測,譜線簡單,相互干擾少,樣品不必分離,分析方法比較簡單。分析濃度的范圍也較寬,從常量到微量都可以分析,分析的樣品也不被破壞,分析結果快速、準確、操作方便簡單。


主要用途有:油品和燃料、塑料、橡膠、紡織品、藥品、食品、化妝品和身體護理產品、化肥、礦物、礦石、巖石、沙、爐渣、水泥、耐熱材料、玻璃、陶瓷、晶片;紙張、膠片、聚酯和金屬的涂層測定。


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